鎮江供應牛津儀器X射線鍍層測厚儀

MAXXI5   X射線鍍層測厚儀

產地╃╃▩✘：英國   品牌╃╃▩✘：牛津儀器    型號╃╃▩✘：MAXXI5

儀器原理及測量方法介紹╃╃▩✘：

● 1.熒光X射線微小面積鍍層厚度測量儀的特徵••✘☁，滿足標準ISO 3497-2000或GB T16921-2005金

    屬覆蓋層 鍍層厚度的測量 X射線光譜法

• 可測量電鍍▩││、蒸鍍▩││、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度↟◕↟☁•。
• 可透過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量••✘☁，避免直接接觸或破壞被測物↟◕↟☁•。
• 薄膜FP法軟體是標準配置••✘☁，可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量↟◕↟☁•。此外••✘☁，適用於無鉛焊錫的應用↟◕↟☁•。 

● 2.測量原理   鎮江供應牛津儀器X射線鍍層測厚儀

   物質經X射線或粒子射線照射後••✘☁，由於吸收多餘的能量而變成不穩定的狀態↟◕↟☁•。從不穩定狀態要回到穩定狀態••✘☁，此物質必需將多餘的能量釋放出來••✘☁，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來↟◕↟☁•。熒光X射線鍍層厚度測量或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度••✘☁，來進行定性和定量分析↟◕↟☁•。

● 3.鍍層厚度的測量方法   鎮江供應牛津儀器X射線鍍層測厚儀

    鍍層厚度的測量可分為標準曲線法和FP法(基本引數法)2種↟◕↟☁•。標準曲線法是測量已知厚度或組成的標準樣品••✘☁，根據熒光X射線的能量和強度及相應鍍層厚度的對應關係••✘☁，來得到標準曲線↟◕↟☁•。之後以此標準曲線來測量示知樣品••✘☁，以得到鍍層厚度或組成比率↟◕↟☁•。

FP法即是Fundamental Parameter Method的簡稱↟◕↟☁•。即基本引數法↟◕↟☁•。

1）標準曲線法╃╃▩✘：如下圖所示••✘☁，經X射線照射後••✘☁，鍍層和底材都會各自產生熒光X射線••✘☁，我們必需對這2種熒光X射線能夠辨別••✘☁，方能進行鍍層厚度的測量↟◕↟☁•。也就說••✘☁，鍍層和底材所含有的元素必需是不*相同的••✘☁，這是測量鍍層厚度的先決條件↟◕↟☁•。 

   鍍層厚度測量時••✘☁，可採用兩種不同方法↟◕↟☁•。

    一種是注重鍍層中的元素所產生的熒光X射線強度••✘☁，稱為激發法↟◕↟☁•。

   一種是注重底材中的元素所產生的熒光X射線強度••✘☁，稱為吸收法↟◕↟☁•。這兩種方法的應用必需根據鍍層和底材的不同組合來區分使用↟◕↟☁•。

   鍍層厚度測量時••✘☁，測量已知厚度的標準樣品而得到其厚度及產生的熒光X射線強度之間的關係••✘☁，並做出標準曲線↟◕↟☁•。然後再測量未知樣品的熒光X射線強度••✘☁，得到鍍層厚度↟◕↟☁•。但是需注意的是••✘☁，熒光X射線法是從得到的熒光X射線的強度來求得單位面積的元素附著量••✘☁，再除以元素的密度來得出其厚度↟◕↟☁•。所以••✘☁，對於含有雜質或多孔質蒸鍍層等與純物質不同密度的樣品••✘☁，需要進行修正↟◕↟☁•。

2）FP法 - 基本引數方法

   採用FP法••✘☁，只需要比標準曲線法更少的標準樣品••✘☁，就能簡單迅速地得到測量的結果↟◕↟☁•。如果樣品均勻••✘☁，所使用分析線的強度就可用樣品的成分和基本引數的函式來表示↟◕↟☁•。換句話說••✘☁，從任意組成的樣品所產生的分析線強度••✘☁，都可以從這基本引數來計算出••✘☁，所以我們稱這種方法為基本引數法↟◕↟☁•。

   FP法的zui大特徵是可對塊體樣品進行成分分析到薄膜樣品的成分與厚度同時進行分析與測量↟◕↟☁•。MAXXI 5系列的儀器是對於塊體樣品可採用塊體FP法••✘☁，對於薄膜樣品可採用薄膜FP分析法↟◕↟☁•。

奔藍科技崑山分公司   吳生╃╃▩✘：151九零一九4078